復(fù)合鹽霧試驗箱1在樣品斷電的狀態(tài)下

　　114檢測中心：檢測高低溫振動沖擊高低溫試驗怎么做_高低溫測試流程及標準介紹

　　高低溫振動沖擊項目,高低溫檢測是獲得CNAS和CMA資質(zhì)認可的第三方高低溫測試機構(gòu)，實驗室配高低溫試驗箱，可提供高低溫測試，并出具高低溫測試報告。接下來114檢測中心為大家介紹高低溫測試方法。

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　　高低溫循環(huán)測試(又名高低溫循環(huán)試驗、高低溫試驗等)主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。

　　高低溫循環(huán)測試是指設(shè)定溫度從-50C保持4個小時后，升溫到 +90C ，然后，在+90保持4個小時，降溫到-50C，依次做N個循環(huán)。

　　工業(yè)級溫度標準為-40C ~ +85C，因為溫箱通常會存在溫差，為保證到客戶端不會因為溫度偏差導(dǎo)致測試結(jié)果不一致，內(nèi)部測試建議使用標準溫度5C溫差來測試。

　　1、在樣品斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50C，保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態(tài)下進行低溫測試，非常重要，因為通電狀態(tài)下，芯片本身就會產(chǎn)生+20C以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過低溫測試，必須先將其“凍透”，再次通電進行測試。

　　4、升溫到+90C，保持4個小時，與低溫測試相反，升溫過程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個小時后，執(zhí)行2、3、4測試步驟。
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