步入式高低溫試驗(yàn)室然后分別連接測(cè)試儀對(duì)應(yīng) |
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發(fā)布者:無(wú)錫瑪瑞特科技有限公司 發(fā)布時(shí)間:2020/12/22 10:28:46 點(diǎn)擊次數(shù):329 關(guān)閉 |
測(cè)試高溫高濕儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S.的結(jié)構(gòu),元件及整機(jī)電氣的影響,以考量S.M.P.S.結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性. (2).將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度,然后啟動(dòng)溫控室; (3).試驗(yàn)24Hrs,試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs,再確認(rèn)待測(cè)品外觀,結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常. 測(cè)試低溫環(huán)境對(duì)S.M.P.S.操作過(guò)程中的結(jié)構(gòu),元件及整機(jī)電氣的影響,用以考量S.M.P.S.結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性. (4).做完測(cè)試后將待測(cè)品從溫控室中移出,在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少4小時(shí),然后確認(rèn)其外觀和電氣性能有無(wú)異常. 測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S.的結(jié)構(gòu),元件及整機(jī)電氣的影響,用以考量S.M.P.S.結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性. (2).將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室. (3).試驗(yàn)24Hrs,試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs,再將待測(cè)品做HI-POT測(cè)試,記錄測(cè)試結(jié)果,之后確認(rèn)待測(cè)品的外觀,結(jié)構(gòu)及 測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S.的整機(jī)電氣的影響,用以考量S.M.P.S.電氣及零件選用的合理性. 儲(chǔ)存低溫條件:通常為操作溫度0℃條件下降低到-10 2℃,儲(chǔ)存時(shí)間至少4Hrs. (2).將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室. (3).試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少4Hrs,然后分別在115Vac/60Hz 230Vac/50Hz和輸出負(fù)載條件下開(kāi)關(guān)機(jī)各20次,確認(rèn)待測(cè)品電氣性能是否正常. 測(cè)試針對(duì)S.M.P.S.所有組成零件的加速性測(cè)試,用來(lái)顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問(wèn)題. 操作溫度條件:通常為低溫度-40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度66 ℃(濕度: 50-90%),試驗(yàn)至少24個(gè)循環(huán). (4).啟動(dòng)恒溫恒濕機(jī),然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形,監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過(guò)程, (5).試驗(yàn)完成后,溫度回到室溫再將待測(cè)物從恒溫恒濕機(jī)中移出,放置樣品在空氣中4Hr再確認(rèn)外觀,結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常. (1).在溫控室內(nèi)待測(cè)品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉(zhuǎn)變,并低溫烘烤1Hr. (2).溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉(zhuǎn)變,轉(zhuǎn)變時(shí)間為2min.,并高溫烘烤1Hr. (3).在高溫70 ℃和低溫-30 ℃之間循環(huán)10個(gè)周期后,溫度回到常溫將S.M.P.S.取出(至少恢復(fù)4小時(shí)). (2).將待測(cè)品與耐壓測(cè)試儀依要求連接,進(jìn)行耐壓測(cè)試,觀察是否有產(chǎn)生電弧ARCING,及漏電流CUT OFF CURRENT是否過(guò)大. (1).測(cè)試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測(cè)試儀的測(cè)試條件,待測(cè)品的輸入與輸出分別應(yīng)與測(cè)試儀接觸良好. 了解S.M.P.S.由一定高度,不同面進(jìn)行跌落DROP,其結(jié)構(gòu),電氣等特性的變化狀況. (1).所有待測(cè)品需先經(jīng)過(guò)電氣上的測(cè)試及目視檢查,以保證測(cè)試前沒(méi)任何可見(jiàn)的損壞存在. (3).使待測(cè)品由規(guī)定的高度及項(xiàng)(2)所確定的測(cè)試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落,每跌落一次均須對(duì)其電氣及絕緣等進(jìn)行確認(rèn),記錄正;虍惓=Y(jié)果. (1).依SPEC.要求:施加500V直流電壓后進(jìn)行測(cè)試的絕緣阻抗值要高10MOhm(常規(guī)定義). (1).確認(rèn)好電氣性能后,在絕緣阻抗測(cè)試儀中設(shè)定好施加的電壓(500Vdc)和測(cè)試的時(shí)間(1 Minute). (2).將待測(cè)物輸入端和輸出端分別短路連接,然后分別連接測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端進(jìn)行測(cè)試.
(4).確認(rèn)待測(cè)物的測(cè)試絕緣阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm. |