高低溫試驗箱評估產(chǎn)品因為跌落

　　可靠度是產(chǎn)品以標準技術(shù)條件下，在特定時間內(nèi)展現(xiàn)特定功能的能力，可靠度是量測失效的可能性，失效的比率，以及產(chǎn)品的可修護性。根據(jù)產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)范以及客戶的要求，我們可以執(zhí)行MIL-STD, JEDEC, IEC, JESD, AEC, and EIA等不同規(guī)范的可靠度的測試。

　　可靠性可以定義為產(chǎn)品在特定的使用環(huán)境條件下，在既定的時間內(nèi)，執(zhí)行特定功能,成功達成工作目標的機率。對于可靠性*直接影響的環(huán)境因子有，高低溫試驗箱溫度變化、溫度、濕度、機械應(yīng)力、電壓…等等。可靠性測試主要針對組件在各種環(huán)境下進行實驗，以加速各組件老化及發(fā)生失效現(xiàn)象，進而達到改善設(shè)計、材料或是制程參數(shù)的目的。

　　· 高溫水蒸汽壓力試驗(Pressure Cook Test)/高加速溫濕度試驗(High Acclerate Stress Test) : 與溫濕度貯存試驗原理相同，不同地方是在加濕過程中,壓力大于大氣壓力，高低溫試驗箱更加速了腐蝕速度，引發(fā)出封裝不佳的產(chǎn)品,內(nèi)部因此而腐蝕。

　　· 溫度循環(huán)試驗(Temperature Cycling Test) : 使零件冷熱交替幾個循環(huán)，利用膨脹系數(shù)的差異，造成對組件的影響。可用來剔除因晶粒﹑打線及封裝等受溫度變化而失效之零件。

　　· 溫度沖擊試驗(Thermal shock Test) : 基本上跟溫度循環(huán)試驗原理一樣，差異是加快溫度變化速度。測定電子零件曝露于高低溫情況下之抗力,可以偵測包裝密封﹑晶粒結(jié)合﹑打線結(jié)合﹑基體裂縫等缺陷。

　　· 高溫壽命試驗(High Temperature Operating Life Test) : 利用高溫及電壓加速的方法，在高溫下加速老化，再外加訊號進去，仿真組件執(zhí)行其功能的狀態(tài)。藉短時間的實驗,來評估IC產(chǎn)品的長時間操作壽命。

　　· 震動測試(Vibration Test)：仿真地面運輸或產(chǎn)品操作使用時,所產(chǎn)生的震動環(huán)境。將構(gòu)裝組件結(jié)構(gòu)內(nèi)原有的缺陷，經(jīng)由震動行為加速缺陷的劣化狀況，進而導(dǎo)致組件機制失效。

　　· 機械沖擊測試(Mechanical Shock Test)：將試件在一定的高度上,沿斜滑軌下滑與底部的障礙物相撞,而產(chǎn)生沖擊。高低溫試驗箱將構(gòu)裝組件結(jié)構(gòu)內(nèi)原有的缺陷，經(jīng)由沖擊行為加速缺陷的劣化狀況，進而導(dǎo)致組件機制失效。

　　· 落下測試(Drop Test)：把裝有試件的工作臺上升到一定高度,突然釋放而跌落,與底部的鋼板或水泥板相撞而發(fā)生沖擊。評估產(chǎn)品因為跌落，于安全條件需求下*小的強韌性。
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